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电子行业标准

SJ∕T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3258 SJ∕T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法 ...

SJ∕T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3285 SJ∕T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量 ...

SJ∕T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3281 SJ∕T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范...

SJ∕T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3433 SJ∕T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法...

SJ∕T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3242 SJ∕T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法...

SJ∕T 11511-2015 液晶显示器用正胶显影液

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3327 SJ∕T 11511-2015 液晶显示器用 正胶显影液...

SJ∕T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3272 SJ∕T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法...

SJ∕T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3365 SJ∕T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范...

SJ∕T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3225 SJ∕T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法...

SJ∕T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法

更新日期: 2021-04-06   标准语言: 中文版   浏览次数: 3265 SJ∕T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法...