T/CIE 126-2021 磁随机存储芯片测试方法

本标准给出了磁随机存储(Magnetic Random-Access Memory;MRAM)芯片测试方法的术语、测试原理﹑测试环境﹑测试设备、测试程序等。
本标准适用于磁随机存储芯片测试和磁随机存储芯片关键性能(可靠性和电学参数等)验证。