SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
资料介绍
本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法
相关资料
- SJ/T 11001-2023 电子元器件详细规范CD291、CD292、CD293型固定铝电解电容器 评定水平E
- SJ/T 11899-2023 超高清电子白板技术规范
- SJ/T 11900.1-2023 超高清视频图像质量 第1部分：主观评价
- SJ/T 11901-2023 超高清远程会诊系统技术要求
- SJ/T 11903.1-2023 高动态范围（HDR)视频 图像质量 第1部分：主观评价
- SJ/T 11904.2-2023 互联网超高清视频播放软件 第2部分：互动视频播放系统技术要求
- SJ/T 11905-2023 全景视频行车记录仪技术规范
- SJ/T 11907-2023 电视接收设备 三维声性能技术要求和测量方法
- SJ/T 11908-2023 前投影式全景球面显示系统技术规范
- SJ/T 11909-2023 电视接收设备 模拟射频接收性能技术要求和测量方法